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台積電公佈N2 2nm缺陷率：比3/5/7nm都好

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發佈時間: 2025-4-26 21:24

正文摘要:

在近日舉辦的北美技術論壇上台積電首次公開了N2 2nm製程的缺陷率(D0)情況，比此前的7nm、5nm、3nm等歷代製程都好的多。 台積電沒有給出具體數據，只是比較了幾個製程缺陷率隨時間變化的趨勢。台積電N2首次引進了GAA ...

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