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Fractilia 指出隨機性圖案變異的量測與控制將是提升半導體製造良率關鍵

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發佈時間: 2025-7-19 00:55

正文摘要:

先進的半導體製程有許多挑戰,其中不受控制的隨機性圖案變異導致良率下降及生產進度延誤,Fractilia 提供隨機性誤差量測與控制解決方案將有助業者提升製造良率。 隨著半導體製程不斷進步,單位面積中塞入的電 ...

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