先進的半導體製程有許多挑戰,其中不受控制的隨機性圖案變異導致良率下降及生產進度延誤,Fractilia 提供隨機性誤差量測與控制解決方案將有助業者提升製造良率。 隨著半導體製程不斷進步,單位面積中塞入的電 ...